-
GB/T 19501-2004 电子背散射衍射分析方法通则
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。 本标准适用于安装了电子被散射衍射附件的电子束显微分析仪进行物相的鉴定、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
来源:john.kingl 资料
-
Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射
Thermo Scientific QuasOr 电子背散射衍射
来源:赛默飞测量控制和样品识别 资料
-
电子背散射衍射及其在钢铁研究中的应用
来源:maomi520 资料
-
布鲁克 D2 PHASER X射线衍射仪
来源:an001 资料
-
Sievers分析仪应用于微电子行业
微电子Sievers分析仪应用于微电子行业无Sievers分析仪应用于微电子行业
来源:Sievers分析仪(威立雅) 应用
-
布鲁克 D8 Venture X射线单晶衍射仪
来源:an001 资料
-
用三离子束切割仪制备适合于EBSD分析的硬质金属合金样品
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
-
罗宾逊背散射电子探测器样本
来源:COXEM Co.,Ltd.库赛姆中国/北京天耀科技有限公司 资料
-
布鲁克 D8 QUEST X射线单晶衍射仪
来源:an001 资料
-
布鲁克 D8 Venture X射线单晶衍射仪
来源:布鲁克衍射荧光事业部(AXS) 资料
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net